本實用新型提供了一種半導體外延片的擊穿電壓檢測裝置,屬于半導體技術領域。本實用新型的擊穿電壓檢測裝置包括交流電源、滑移機構、轉盤和探針,轉盤與交流電源負極連接,探針與交流電源正極連接,交流電源正極與探針之間設有示波器,探針固定在滑移機構上;滑移機構包括滑移桿和滑移座,滑移桿底端卡接在滑移座的凹槽內,滑移桿能夠沿滑移座凹槽移動,實現探針與P型層上表面在徑向上接觸;轉盤底端通過轉軸與固定座連接,轉盤以轉軸為圓心進行轉動,實現探針與P型層上表面在周向上接觸。本實用新型的檢測裝置能夠快速、直接、無損地檢測半導體外延片的擊穿電壓。
聲明:
“半導體外延片的擊穿電壓檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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