一種基于頻域稀疏反演的TOFD盲區內缺陷定量檢測方法,屬于無損檢測技術領域。該方法采用TOFD超聲檢測儀、TOFD探頭、楔塊及掃查裝置構成的測試系統。對TOFD檢測中近表面區域進行掃查,對采集到的混疊時域信號進行處理,建立稀疏反演模型??紤]反射序列稀疏與可分解特性,在頻域中建立TOFD盲區檢測的目標函數。選取高信噪比部分頻譜數據進行反演,實現直通波、缺陷上端點及下端點衍射波混疊信號的分離。根據反演結果,直接讀取直通波與缺陷上端點、下端點衍射波聲程差,確定近表面盲區內缺陷埋深與高度。與其他近表面缺陷檢測方法相比,該方法可分離多個混疊信號,能實現近表面盲區內缺陷的深度和高度同時測量,且對硬件系統無額外要求,具有較好的工程應用價值。
聲明:
“基于頻域稀疏反演的TOFD盲區內缺陷定量檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)