本發明提供一種基于太赫茲光譜技術的熱障涂層中CMAS的檢測方法,包括:制備一組未受CMAS腐蝕的和N組受CMAS腐蝕程度不同的熱障涂層試樣,N至少為2且N為正整數;選取其中一組熱障涂層試樣進行太赫茲光譜測試;計算熱障涂層試樣在太赫茲頻段的光學特征參數;對其余熱障涂層試樣重復上述步驟,分析未受CMAS腐蝕的和受CMAS腐蝕程度不同的熱障涂層試樣在太赫茲頻段的光學特征參數的變化規律;對待測樣品重復上述步驟,并根據變化規律判斷待測樣品是否受CMAS腐蝕及腐蝕程度。本發明可以實現對熱障涂層中CMAS的高效無損檢測,具有不破壞和污染樣品,數據處理過程簡便,檢測結果精度高及檢測過程無輻射對人體安全等優點。
聲明:
“基于太赫茲光譜技術的熱障涂層中CMAS的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)