本公開實施例公開了一種涂層厚度檢測系統及方法。其中,涂層厚度檢測系統,包括:恒溫腔體、移動機構和測量機構;移動機構和測量機構設置在恒溫腔體內;測量機構設置在移動機構上,測量機構在移動機構的帶動下在恒溫腔體內移動,測量機構對被測量物的涂層厚度進行測量,測量機構基于光熱法對涂層厚度進行測量。光熱法沒有輻射,實現對人體無輻射損傷危害,不用接觸被測量物,實現對被測量涂層厚度的非接觸無損傷測量,受被測量涂層的平面和基材影響較小,可實現在曲面、粗糙的表面和不同厚度的基材上測量,受系統的振動幅度、被測距離控制精度和測量角度精度的影響較小,能夠有效減少外界因素對測量的影響。
聲明:
“涂層厚度檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)