本申請公開了一種基于多光譜圖像的葵花籽內霉檢測方法、電子設備及介質。該方法可以包括:獲取葵花籽的光譜圖像,獲得對應葵花籽的光譜特征與圖像、紋理特征;根據葵花籽的光譜特征與紋理特征,對葵花籽進行分類;計算葵花籽的內霉概率分布,根據葵花籽的分類與內霉概率進行擬合,獲得內霉預測模型;將待測葵花籽代入內霉預測模型中,預測待測葵花籽的內霉概率。本發明實現了對葵花籽殼內籽仁品質的帶殼無損檢測。
聲明:
“基于多光譜圖像的葵花籽內霉檢測方法、電子設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)