本發明公開了一種奧克托今顆粒表面粗糙度檢測方法,該方法通過將奧克托今粗品顆粒精制,確定需要抽取的待測樣品的數目,依據隨機數表抽取待測樣品,測量待測樣品的表面粗糙度,計算輪廓算術平均偏差平均值與輪廓算術平均偏差示值誤差,最后報告與表示。本發明采用光學法進行測試,實現了無損、非接觸測試,量化奧克托今顆粒表面粗糙度值,以此分析和評價高品質奧克托今。
聲明:
“奧克托今顆粒表面粗糙度檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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