本發明涉及大間距鏡頭鏡片距離測量裝置及其測量方法,將寬帶光源出射的光通過干涉結構產生干涉信號,對干涉信號進行處理使得發光二級管發光顯示。在樣品臂中使用細平行光束作為掃描光束,通過光程掃描裝置進行光程匹配,當樣品臂光程與鏡頭中光學表面相等時產生干涉信號時二極管發光,記錄標尺讀數得到光學表面的位置,通過滑動光程掃描裝置可以得到鏡頭中不同深度各個光學表面的位置,根據光學表面的位置和成像起始位置的移動距離得到兩光學表面中心的距離,實現大間距鏡頭鏡片距離的測量。本發明具有非接觸無損測量、測量精度高、數據處理簡單,成本低廉的優點,應用于光學加工、光學檢測等表面間距測量領域。
聲明:
“大間距鏡頭鏡片距離測量裝置及其測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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