本發明提供一種光窗電磁屏蔽效能原位測試裝置及方法,屬于電磁性能測試技術領域。該裝置基于介質諧振器,利用介質諧振器儲能與耗能的關系測量出光窗內部導電網柵的等效微波表面電阻,進而計算出導電網柵的等效電導率,根據電導率與電磁屏蔽效能的關系獲得光窗的電磁屏蔽效能。該裝置能夠在單側加載傳感器且不接觸導電網柵的情況下實現光窗屏蔽效能的無損測試,為服役條件下光窗的維護保養提供重要的技術支撐。
聲明:
“光窗電磁屏蔽效能原位測試裝置及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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