一種基于衰減全反射紅外光譜的痕跡遺留時間的測量方法,采集檢材痕跡的紅外光譜數據,制作樣本痕跡,分類樣本,采集樣本數據集,使用神經網絡建立樣本痕跡的紅外光譜數據與遺留時間的對應關系模型并驗證精度,將檢材痕跡的紅外光譜數據錄入符合精度要求的模型,模擬檢材痕跡的遺留時間,評估模擬結果,必要時擴充樣本數據集;該方法重現性好,制樣簡便,結果穩定可靠,檢測精度高,滿足刑偵領域中進行快速無損鑒定的需要。
聲明:
“基于衰減全反射紅外光譜的痕跡遺留時間的測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)