本申請公開了一種結構件自諧振頻率的測量方法和裝置,解決了結構件自諧振頻率和品質因數的檢測問題,所述方法包括將頻率連續變化的掃頻信號轉換為第一聲波;用所述第一聲波掃描所述結構件頂部;所述第一聲波透過所述結構件,在所述密閉空間內形成第二聲波;將所述第二聲波轉換為頻率信號;對所述頻率信號進行數據處理,得到所述自諧振頻率。所述裝置包括掃描信號發生器、揚聲器、吸音棉、拾音器、上位機。本發明解決了結構件批量來料的快速檢驗問題,重復性較好,精度高,且對表面鍍層無損傷。
聲明:
“結構件自諧振頻率的測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)