本實用新型提出了一種實現薄膜厚度精確測量的裝置,包括邁克爾遜干涉儀、圖像傳感器CCD、數據采集模塊、硬件和驅動電路;邁克爾遜干涉儀用于產生干涉條紋,且邁克爾遜干涉儀上設有點光源;CCD用于記錄邁克爾遜干涉儀產生的干涉條紋,且CCD與數據采集模塊電性連接;數據采集模塊設有計數器,計數器用于對干涉條紋進行計數,且計數器將計數結果輸送至硬件;硬件與數據采集模塊電性連接,且硬件內設有數據處理及輸出模塊,且數據處理及輸出模塊將硬件內的信息進行處理并輸出;驅動電路與CCD電性連接。本實用新型具有快速、準確、無損傷和測量范圍大等優點,可應用于工業生產的在線檢測,在納米技術的基礎性研究中也有一定的應用價值。
聲明:
“實現薄膜厚度精確測量的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)