本發明公開了一種頁巖儲層納米孔隙結構特征參數測試分析方法及系統,該方法包括:采集頁巖樣品的二維斷層圖像;基于所述頁巖樣品的二維斷層圖像,重新建立三維圖像;基于所述三維圖像,獲得頁巖納米孔隙結構特征參數;本發明的技術方案,利用納米CT技術無損檢測頁巖儲層巖心獲取頁巖孔隙結構圖像,可在納米尺度下準確、快速地分析頁巖儲層巖心孔隙結構特征參數。
聲明:
“頁巖儲層納米孔隙結構特征參數測試分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)