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    無需參考樣本的熱障涂層陶瓷層太赫茲測厚方法

    989   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:32
    本發明公開一種無需參考樣本的熱障涂層陶瓷層太赫茲測厚方法,將太赫茲時域光譜系統發射的太赫茲波垂直入射熱障涂層,垂直入射的太赫茲波在陶瓷層內多次反射,獲取前三次回波信號的振幅;根據計算前三次回波信號的平均振幅,得到振幅強度,根據振幅強度,計算陶瓷層的折射率;根據陶瓷層的折射率,計算陶瓷層的厚度。本發明提出的方法使用太赫茲時域信號,在無需參考樣本的前提下便能夠實現熱障涂層陶瓷層厚度的非接觸、高效、無損檢測。
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