本發明的實施例涉及核徑跡技術領域,尤其涉及一種用于測量核孔膜的物理參數的設備和方法。適用于但不僅限于沿預定方向連續不間斷傳送的核孔膜的測量,可測量核孔膜的物理參數。設備包括:夾持系統,用于夾持核孔膜以將核孔膜的待測部分穩定地保持在測量位置;測量系統,用于在夾持系統將待測部分穩定地保持在測量位置時,測量核孔膜待測部分的物理參數;傳送系統,當待測部分保持在測量位置時,用于使位于設備上游和下游的核孔膜沿原定方向繼續傳送。設備能夠對處于傳送狀態的核孔膜進行測量,即不影響位于設備上下游的核孔膜的傳送,也無需裁剪核孔膜,是一種無損測量設備。
聲明:
“用于測量核孔膜的物理參數的設備和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)