本發明提供了用于單層電容的測試夾具,有效的解決了現有的夾具會對電容電極造成損傷和測試效率較低等問題,實現了對單層電容的無損測試及老化,簡化了對單層電容在測試及老化環節的取放操作,提高了生產效率的提高,降低了設備成本,包括兩個相互平行設置的電極板,其特征在于:所述電極板之間分別對應設置有探針,所述探針上下配合夾持單層電容,所述探針的探針端頭的平面觸點面積大于單層電容的電極面積。
聲明:
“用于單層電容的測試夾具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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