本發明公開了一種基于X射線斷層掃描的紙張絕對滲透率預測方法,過程如下:采用X射線斷層掃描儀無損化掃描紙張,獲取紙張三維結構序列圖;使用數字圖像后處理技術對原始掃描序列圖進行對比度調節、濾波處理和圖像分割;利用三維可視化軟件構建紙張的三維孔隙結構,并以紙張的孔隙率作為估算表征單元REV尺寸的依據,確定適用于滲透模擬的REV尺寸大??;在構建的REV三維孔隙結構模型中,利用數值模擬軟件對流體在紙張內部的滲透過程進行數值模擬,根據達西定律預測紙張絕對滲透率。本發明克服了傳統方法測量紙張絕對滲透率操作復雜、不安全、無法觀測到流體在紙張孔隙結構中具體的流動情況(流速分布、壓力分布、流體路徑等)的缺點。
聲明:
“基于X射線斷層掃描的紙張絕對滲透率預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)