本發明提供的是一種微結構光纖高分辨率三維折射率測試方法。其特征是:它包括基于F?P腔的數字全息圖記錄、數值重建、解包裹、誤差處理、三維相位分布重建和三維折射率轉換。本發明主要提供一種微結構光纖高分辨率三維折射率測試方法,相比傳統的顯微成像方法,具有更高的靈敏度。本發明具有結構簡單、靈敏度高、測量精確的優點。本發明可用于微結構光纖的高分辨率三維顯微成像,可廣泛應用于光學透明物體的無損、無標記、非接觸式的三維層析成像等。
聲明:
“微結構光纖高分辨率三維折射率測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)