本申請涉及無損檢測的領域,尤其是涉及一種γ射線探傷設備,其包括防輻射箱體、設置在防輻射箱體內的檢測臺與放射性箱體及設置在防輻射箱體外側的處理器,所述防輻射箱體遠離檢測臺一端設置有轉動連接的門板所述放射性箱體上連接有設置于檢測臺上方的檢測探頭,所述放射性箱體與處理器相連接,所述處理器上設置有控制按鈕和檢測結果顯示屏。本申請在防輻射箱體內對檢測工件進行檢測,減少了檢測過程中γ射線對檢測人員的損害,提升了γ射線探傷設備的檢測安全性,同時減少了檢測過程中其他射線對檢測結果的干擾,使γ射線探傷設備的檢測更準確。
聲明:
“γ射線探傷設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)