本發明涉及無損檢測技術領域,具體涉及一種基于X射線探傷圖像的缺陷分析裝置。其包括設置在檢測臺中的聚焦鏡和透射光線接收器,該檢測臺水平固定在第一旋轉電機的轉軸上,所述第一旋轉電機豎向固定在其下方的升降平臺上,所述升降平臺固定在升降機構上。X射線槍固定在檢測臺的上方,該X射線槍斜向朝向檢測臺上表面。第一旋轉電機、升降機構、X射線槍均與控制柜連接。反射光線接收器設置在檢測臺的上方,且位于X射線槍對側。透射光線接收器和反射光線接收器均與成像及分析系統連接。本發明的分析裝置能夠對同一測量位置進行透射和反射光線成像,有效提高缺陷圖像的分辨率,而且該分析裝置能夠自動完成對缺陷類型的歸類,有效提高了檢測效率。
聲明:
“基于X射線探傷圖像的缺陷分析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)