本發明涉及一種用于裂紋方向識別的超聲散射系數優化計算方法,屬無損檢測領域。本發明利用超聲相控陣檢測系統,采集裂紋缺陷的全矩陣數據,首先利用采集到的數據對缺陷進行全聚焦成像確定其位置,然后計算裂紋缺陷的散射系數空間分布,確定裂紋的角度。其中子陣列包含的晶片個數、相鄰子陣列間隔晶片數對裂紋角度的測量精度影響較大。本發明利用多個評價指標評價不同子陣列包含的晶片個數、相鄰子陣列間隔晶片數時裂紋角度測量結果的優劣,通過主成分分析法綜合評價測量結果,得到最佳測量結果,其對應的參數——子陣列包含的晶片個數和相鄰子陣列間隔晶片即為最佳檢測參數。
聲明:
“用于裂紋方向識別的超聲散射系數優化計算方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)