本發明公開了一種樣品中氚的BIXS方法分析裝置,其包括操作臺、真空筒、導軌、探測器安裝座、X射線探測器、樣品臺、電阻真空計、薄膜氣壓計;所述真空筒位于操作臺上方,所述導軌設置在操作臺上方并且位于真空筒內,所述探測器安裝座滑動設置在導軌上,所述X射線探測器設置在探測器安裝座上,所述樣品臺設置在操作臺上方并且位于真空筒內以及X射線探測器下側,所述電阻真空計、薄膜氣壓計分別設置在真空筒的兩側并且延伸至真空筒內。本發明充分利用了β射線與物質相互作用的特點,結構簡單、體積小、價格便宜、檢測速度快、靈敏度高、且支持在真空及充氬氣兩種不同情況下進行實驗;具有對樣品分析無損的特點,且操作簡單,對實驗人員無傷害的優勢;分別選用真空及充氬氣兩種方法實現對樣品的分析;所占空間小,易于移動,對于有氚分析需求的各高校及相關科研單位是一個很理想的選擇。
聲明:
“樣品中氚的BIXS方法分析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)