本發明實施例公開一種特征選擇方法及裝置,能實現用于光譜無損檢測中目標物測定的特征的選擇,具有較好的魯棒性和穩定性。方法包括:S1、獲取樣品的光譜數據集;S2、對所述光譜數據集進行第一數量次采樣,獲得所述第一數量個樣本空間,對于每一個樣本空間,利用該樣本空間構建一個偏最小二乘定量分析模型,并基于該偏最小二乘定量分析模型對該樣本空間所對應的特征進行重要性排序;S3、根據所述第一數量個樣本空間對應的特征的重要性排序結果對所述第一數量個樣本空間對應的特征進行排序,得到特征排序結果,基于所述特征排序結果確定特征選擇數量,并按照所述特征排序結果選擇前所述特征選擇數量個特征作為目標特征。
聲明:
“特征選擇方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)