本發明公開了一種工業X光圖像的分類方法,該方法實現了對工業生產過程中無損探傷檢測環節的自動化,能夠代替人工對該環節產生的X光圖像進行病疵種類的快速分類。本發明還針對底紋對病疵圖像識別的影響作出改進,通過提出去底紋函數,構造出純底紋圖像,利用原圖與純底紋圖像的差異,在一定程度上去除原圖中的底紋,大幅提升這種情況下圖像分類的準確率。此外本發明通過對神經網絡訓練過程中殘差的利用,大大降低訓練耗時,確保了方法的高效性。
聲明:
“工業X光圖像的分類方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)