本發明特別涉及一種小麥赤霉病染病籽粒識別的光譜病害指數構建,包括如下步驟:(A)挑選健康和染病小麥籽粒作為樣本,采集得到兩條平均光譜曲線;(B)分別對兩條平均光譜曲線進行一階微分處理得到兩條一階微分光譜曲線;(C)根據兩條平均光譜曲線求解波長λ1,根據兩條一階微分光譜曲線求解波長λ2;(D)計算每個小麥籽粒的光譜病害指數;(E)根據健康和染病小麥籽粒的光譜病害指數分別畫出其頻數直方圖;(F)對兩個頻數直方圖進行曲線擬合,取兩條擬合曲線的交點為判斷閾值;還公開了利用該模型進行小麥赤霉病檢測的方法。本發明構建的光譜病害指數,具有無損、計算速度快、精度高、穩定性好的應用優勢。
聲明:
“小麥赤霉病染病籽粒識別的光譜病害指數構建及應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)