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    用于失效分析的樣品的處理方法及失效分析方法

    1222   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:29
    本發明提供了一種用于失效分析的樣品的處理方法及失效分析方法,所述用于失效分析的樣品的處理方法包括:在晶圓上獲取待分析的芯片樣品;將所述芯片樣品去層至目標銅金屬層結構上表面;在所述目標銅金屬層結構上表面的待檢測位置形成鍍碳保護層。本發明的技術方案降低了金屬表面出現銅擴散的概率,使得在失效分析過程中制備芯片樣品的失敗率大大降低,并且縮短了分析周期,加快了找到芯片失效關鍵原因的速度。
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