本發明提供了一種電容的失效分析方法,包括以下步驟:A、對需要進行分析的電容樣品進行外觀觀察,分析可能的實效原因;B、對需要進行分析的電容樣品進行X-Ray透視檢查,確認電容的內部結構;C、使用小刀將電容劃開,取出電容樣品中的薄膜;D、將需要進行分析的電容樣品制作成金相切片樣品;E、使用掃描電子顯微鏡對金相切片好的樣品進行觀察分析;F、綜合分析上述步驟得出的結果,確定電容失效的原因。本發明帶來的有益效果是:本發明方法步驟簡單清晰,可準確分析出電容失效的原因,不會造成誤判。
聲明:
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