本發明提供一種電子產品失效分析方法,該方法包括如下步驟:從存儲裝置中獲取失效電子產品的失效信息;根據所獲取的失效信息進行失效復制驗證,以驗證所獲取的失效信息對應的失效現象能否復制;當所獲取的失效信息對應的失效現象不能復制時,對失效電子產品進行測試以判斷所述失效電子產品的失效原因是否屬于不能復制問題;當所述失效電子產品不屬于不能復制問題時,判斷所述失效電子產品是否未出故障。
聲明:
“電子產品失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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