• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 定位測試結構失效位置和原因的方法

    定位測試結構失效位置和原因的方法

    753   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:33
    本發明涉及定位測試結構失效位置的方法,涉及半導體集成電路失效分析技術,首先獲得測試結構的失效模型,然后將測試結構中的器件結構中的PN結開啟,利用顯微鏡定位到存在PN結導通區域的測試結構組,而可快速定位到目標區域,最后根據失效模型向器件的失效模型對應的端子施加測試信號,獲得對應端子的測試信號的異常發光點,并將倍率逐漸放大,進而鎖定到失效位置,如此通過PN結開啟可快速定位到目標區域,然后通過切換測試條件而快速鎖定到失效位置,且可避免現有技術中的因背景噪聲信號較大,會淹沒失效點信號,而無法定位的問題。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “定位測試結構失效位置和原因的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>