一種基于ICT和FCT的軟失效預測方法,包括以下步驟:步驟S1、從產品的ICT和FCT測試項目中篩選出重點關注測試項目;收集因重點關注測試項目相關問題而被客退的產品的ICT和FCT測試數據,從而組成非正常數據集;步驟S2、根據所述被客退的產品的生產時間,獲取同一批次但未被客退的產品的ICT和FCT測試數據,從而組成正常數據集;步驟S3、基于非正常數據集和正常數據集,構建用于根據產品的ICT和FCT測試數據預判產品是否存在軟失效的軟失效預測模型;步驟S4、根據軟失效預測模型,實時分析產品的ICT和FCT測試數據,從而預測產品是否存在軟失效。本發明的軟失效預測方法設計新穎,實用性強。
聲明:
“基于ICT和FCT的軟失效預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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