本發明提供一種鏈式通孔結構樣品處理方法及失效測試方法,包括:提供一鏈式通孔結構初始樣品,所述鏈式通孔結構初始樣品包括第二銅金屬層,鉭層,形成于通孔中且位于所述鉭層上的銅插塞;對所述鏈式通孔結構初始樣品進行研磨,直至暴露所述第二銅金屬層;采用濕法刻蝕工藝去除所述第二銅金屬層和所述銅插塞,形成鏈式通孔結構測試樣品。本發明采用濕法刻蝕工藝去除第二銅金屬層中的銅和銅插塞,留下鉭層,避免了金屬銅的短路現象,又因為鉭層中含有金屬鉭滿足聚焦離子束顯微鏡的使用要求,從而對鏈式通孔結構失效位置定位。
聲明:
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