本發明涉及一種考慮IGBT模塊鍵合線失效的壽命預測方法及系統。該方法包括根據IGBT模塊的在線監測數據判斷IGBT模塊的健康狀態;在線監測數據包括:鍵合線的斷裂條數;當IGBT模塊為健康模塊時,直接獲取瞬態阻抗曲線,并根據瞬態阻抗曲線確定RC熱網絡模型,進而進行功率循環實驗,實現壽命預測;當IGBT模塊為老化模塊時,根據瞬態熱阻抗測量試驗測得IGBT模塊當前的瞬態熱阻抗曲線,并利用當前的瞬態熱阻抗曲線確定當前的RC熱網絡模型,進而進行功率循環實驗,實現壽命預測。本發明能夠提高IGBT模塊的壽命預測結果的準確性。
聲明:
“考慮IGBT模塊鍵合線失效的壽命預測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)