• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置

    可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置

    1181   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:34
    本發明提供了一種可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置,所述方法包括:根據顯示區域的參數顯示存儲器芯片包含的多個存儲子模塊的圖形化結構,存儲子模塊包括多個陣列排列的存儲單元;選取預設位置的存儲單元為模擬失效存儲單元,并記錄模擬失效存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述模擬失效存儲單元的位置的失效單元顯示標識;輸入模擬失效存儲單元的位置至修補分析程式中,得到修補方案,以獲取修補存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述修補存儲單元的位置的修補單元顯示標識;根據修補單元顯示標識對失效單元顯示標識的覆蓋情況,生成分析報告。直觀形象的展示了檢驗修補分析程式的整個過程以及檢驗結果,方便快捷且節省時間。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>