本發明提出一種采樣遠場方向圖診斷陣列天線失效陣元的方法,它的具體步驟是:把陣列天線中陣元的工作狀態分為工作和不工作兩種狀態,并對此狀態進行使用遺傳基因算法(GA)進行編碼,并建立目標函數表征不同編碼狀態下計算所得的方向圖與測量所得的方向圖之間的差距。并使用GA算法優化目標函數達到最小值。也就是不同陣元工作狀態配置下計算所得方向圖與測量所得方向圖差距最小的情況。并通過在計算中利用提取到的陣列的S參數加入到陣列方向圖的計算中,把互耦效應的影響考慮進去。提高診斷的成功率。
聲明:
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