• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 缺陷分析方法

    缺陷分析方法

    993   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:56
    本發明涉及半導體缺陷分析技術領域,尤其涉及一種缺陷分析方法,通過在去除待測半導體結構的金屬結構之后,于阻擋層上沉積一層與該阻擋層的材質原子序數相差較大的襯度對比層,之后再進行常規的透射電鏡樣品制備,并采用透射電鏡對透射電鏡樣品進行觀察以對阻擋層進行缺陷分析,由于阻擋層上覆蓋有與該阻擋層的材質原子序數相差較大的襯度對比層,從而在透射電鏡中能夠清晰的觀察阻擋層的缺陷,進而準確的進行缺陷分析;因此本發明這種主動提高透射電鏡圖像襯度分析微小缺陷的方法,可以進一步的擴展微小缺陷失效分析的能力,進而為制程工藝提供更好的技術支持。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “缺陷分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>