本發明涉及一種脈寬調制器單粒子效應時間敏感特性分析方法,方法包括:對樣品的各功能模塊進行激光脈沖的遍歷式掃描并得到各功能模塊的單粒子效應失效模式和單粒子效應敏感參數以及選取各功能模塊的典型入射位置、使激光脈沖以一定的入射周期入射各功能模塊的典型入射位置來分析獲得各功能模塊的單粒子效應時間敏感性信息、獲取脈寬調制器的單粒子效應時間敏感特性等步驟。本發明方法在脈寬調制器功能模塊劃分的基礎上,結合激光脈沖的可控掃描和各功能模塊單粒子效應敏感參數提取來實現脈寬調制器單粒子效應時間敏感特性分析,方法新穎,是重離子單粒子效應地面模擬試驗的重要補充,為較復雜數?;旌想娐返膯瘟W有獣r間敏感特性研究提供支撐。
聲明:
“脈寬調制器單粒子效應時間敏感特性分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)