本發明提供一種裸玻璃面板、電容檢測電路及電容檢測方法。電容檢測電路包括:充放電模塊,分別與參考電壓輸入端和電壓獲取模塊連接,并與裸玻璃面板上的測試點選擇性連接,用于在裸玻璃面板上的開關管導通后,對待測電容進行充、放電;電壓獲取模塊,還與容值計算輸出模塊連接,用于獲取充放電模塊輸出的輸出電壓,并將輸出電壓發送至容值計算輸出模塊;容值計算輸出模塊,用于根據輸出電壓,預置的參考電壓,待測電容的充/放電頻率,及調整系數,計算待測電容的電容值并輸出。采用本申請的電容檢測電路,在裸玻璃面板階段攔截失效的single?cell,避免在顯示面板制作完成后由于良率過低而導致報廢,從而達到降低浪費,減少成本的目的。
聲明:
“裸玻璃面板、電容檢測電路及電容檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)