本發明屬于電機驅動控制技術領域,提供了一種電機控制系統中微處理器的ADC采樣故障檢測方法。該方法是在一次PWM中斷的時間內通過ADC采樣模塊采集獲取微處理器中的內部實際溫度和內部實際參考電壓,通過將內部實際溫度和內部實際參考電壓分別與微處理器本身的預設值比較,來判斷ADC采樣是否失效,實現了在一定PWM中斷頻率下、對adc采樣故障的周期性檢測,從而能及時發現ADC采樣模塊的故障情況并對電機采取保護,提高了電機控制系統運行的可靠性。再有,由于是采用優先級僅次于ADC采樣中斷的PWM中斷作為主中斷,可避免PWM中斷的時間內、故障檢測程序被可能的其它中斷干擾而造成檢測失效。
聲明:
“電機控制系統中微處理器的ADC采樣故障檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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