本發明涉及光模塊檢測技術領域,提供了一種篩選光模塊退化的檢測方法和裝置。其中方法包括在進行老化測試前,給予光模塊中激光器預設的驅動信號,采集光模塊驅動電路的激光器驅動電壓值Vf0;在完成老化過程后,再次給予光模塊中激光器相同的預設的驅動信號,采集光模塊驅動電路的激光器驅動電壓值Vf1;若電壓值Vf1與電壓值Vf0相差超過預設閾值△V,則反饋激光器退化信息。本發明通過對光模塊中激光器工作狀態的監控和控制,除了直觀的發光變化和背光變化進行篩選外,本發明增加了激光器芯片的V?I特性進行進一步的檢測和篩選,可進一步將一些潛在的失效模塊篩選出去,從而提高光模塊檢測篩選的有效性和全面性。
聲明:
“篩選光模塊退化的檢測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)