本發明涉及SSD的低功耗進退可靠性檢測方法、裝置、計算機設備及存儲介質,該方法,包括:獲取高溫SSD低功耗進退的壽命數據;根據壽命數據,計算得到威布爾分布形狀參數和尺度參數;對威布爾分布假設進行校驗;若校驗通過,則獲取常溫SSD低功耗狀態的使用強度及高溫壽命試驗加速因子;根據形狀參數、尺度參數、使用強度及加速因子,計算得到SSD的低功耗進退可靠度,并生成檢測結果。本發明能夠準確評估低功耗狀態在客戶端現場失效概率,預估設計改善后產品可以達到的可靠度,同時對設計改善的效果也給予量化評價。
聲明:
“SSD的低功耗進退可靠性檢測方法、裝置、計算機設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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