本實用新型涉及一種提高測試效率的半導體器件功率循環測試電路。其包括功率循環測試電路本體;還包括若干與待測半導體器件樣品適配連接的器件樣品切換開關電路以及用于檢測所述待測半導體器件樣品測試狀態的器件樣品測試狀態檢測電路;任一器件樣品測試狀態檢測電路檢測到所適配連接的待測半導體器件樣品處于失效斷路狀態時,測試控制電路控制與當前處于失效斷路狀態適配連接的器件樣品切換開關電路處于閉合狀態,以通過處于閉合狀態的器件樣品切換開關電路使得所適配連接的待測半導體器件樣品在功率循環測試電路本體內處于短路狀態。本實用新型能保證功率循環測試的連續性,提高測試的效率與可靠性,降低測試成本。
聲明:
“提高測試效率的半導體器件功率循環測試電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)