一種可編程邏輯器件封裝模塊的安全性測試方法和系統,方法包括以下步驟:針對所述封裝模塊的每個功能,采用軟件故障樹分析法和軟件失效模式與影響分析法進行故障分析,得到每個功能對應的綜合故障樹;以每個所述綜合故障樹中的最小割集為約束條件構建測試用例,所有測試用例構成測試用例集合;采用遺傳算法從所述測試用例集合中選擇最優測試用例組,所述最優測試用例組對所述可編程邏輯器件的封裝模塊進行測試,得到所述可編程邏輯器件的封裝模塊的安全性測試結果。
聲明:
“可編程邏輯器件封裝模塊的安全性測試方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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