本發明涉及自動測量PCIE眼圖的方法、裝置、計算機設備及存儲介質,該方法,包括:獲取主機下發的讀命令;解析讀命令,得到命令參數;根據命令參數啟動眼圖測試電路,然后獲取眼圖數據;根據眼圖數據計算出眼高眼寬數據,并將眼高眼寬數據返回至主機。本發明通過在SSD固件實現眼圖測量分析,為產線測試及客戶端的失效分析,提供了方便快捷的眼圖分析工具,能夠更好地滿足需求。
聲明:
“自動測量PCIE眼圖的方法、裝置、計算機設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)