本發明涉及一種集成電路OS測試機,包括控制單元、電源模塊、測試插座、掃描測試模塊、指示模塊及控制按鈕;測試插座用于插放IC;掃描測試模塊包括電流發生電路、開關控制電路以及電壓測試電路,電流發生電路用于通過測試插座對IC的管腳提供定值電流,開關控制電路用于控制IC的管腳接地,電壓測試電路用于測試管腳的電壓;控制按鈕用于控制測試機在掃描識別模式和測試模式間切換;控制單元用于在掃描識別模式下得到良品IC的管腳分布表,及在測試模式下對待測IC進行開/短路測試并將失效信息輸出給指示模塊進行失效信息指示。本發明還涉及一種集成電路OS測試方法。本發明只需在開始時放上良品IC進行掃描識別,后續即可對待測IC進行連續測試。
聲明:
“集成電路開/短路測試方法及測試機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)