本實用新型提供了一種存儲芯片測試電路裝置,第一存儲陣列輸出的第一測試數據通過第一壓縮電路進行壓縮,生成第一壓縮數據。第二存儲陣列輸出的第二測試數據通過第二壓縮電路進行壓縮,生成第二壓縮數據。利用第三壓縮電路對第一壓縮數據和第二壓縮數據進行再次壓縮,生成第三壓縮數據。不僅可以將生成的第一壓縮數據輸出,還可以通過多路復用器選擇輸出第二壓縮數據和第三壓縮數據中的一種。不僅能夠得到存儲芯片是否失效的檢測結論,還可以得到存儲芯片中第一存儲陣列以及第二存儲陣列失效的檢測結論,精確定位失效位置。測試機通過連接一個端口能夠得到存儲芯片以及存儲陣列的失效情況,提高了測試效率。
聲明:
“存儲芯片測試電路裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)