• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 存儲器芯片內建自測試電路裝置

    存儲器芯片內建自測試電路裝置

    1041   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:17
    本實用新型提供了一種存儲器芯片內建自測試電路裝置,包括待測電路、寄存器、比較電路以及測試結果輸出模塊。待測電路用于根據原始測試向量生成測試數據信號。比較電路連接至待測電路和寄存器,用于對經過寄存器延遲后的原始測試向量和測試數據信號進行邏輯異或運算,生成用于表示待測電路是否有效的測試結果指示信號。測試結果輸出模塊用于根據測試結果指示信號,擇一輸出用于表示待測電路有效的有效測試結果和邏輯狀態指示值中的一種。不僅能夠判斷出待測電路是否有效,而且進一步得到待測電路的失效形態,即能夠從測試結果中直接得出測試數據信號的邏輯狀態,以及原始測試向量的邏輯狀態。不僅提高測試效率,而且便于后續對待測電路的檢修。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “存儲器芯片內建自測試電路裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>