本申請涉及老煉電路的電性能測試領域,提供了一種老煉電路的參數測量順序確定方法和系統。該方法包括:在M個待測參數的種排序方式下,獲取所述M個待測參數中,每個待測參數在測量順序為1時的目標失效率,并將測量順序為1時目標失效率最大的待測參數作為第1參數,其中,所述第1參數為目標順序排第1的參數;獲取除了所述第1參數至第i?1參數以外的待測參數中,每個待測參數在測量順序為i時的目標失效率,并將測量順序為i時目標失效率最大的待測參數作為第i參數,其中,所述第i參數為目標順序排第i的參數,i依次取值:。通過上述方法,可以有效解決老煉電路的參數測量時間長、效率低的問題。
聲明:
“老煉電路的參數測量順序確定方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)