本發明提供了一種半導體集成電路及其測試方法。編程電路在第一編程單元被編程時激活通過信號。當內部電路的測試通過時,第一編程單元被編程。通過外部控制,模式設置電路將運行模式轉換為正常運行模式或者測試模式。當通過信號在正常運行模式期間被失活時,狀態機允許內部電路的部分電路執行不同于正常操作的異常操作。通過在正常運行模式期間識別異常操作,可以容易地識別出半導體集成電路是壞的。由于無需轉換到測試模式就可以識別失效,因此例如購買半導體集成電路的用戶也可以容易地識別出失效。
聲明:
“半導體集成電路及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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