本發明公開了一種基于貝葉斯篩選器與重采樣的電路的良率預測方法及系統。其中良率預測方法,包括:采用Scrambled Sobol序列對參數域進行預采樣得到預采樣點;根據預采樣點得到初始失效域以及初始非失效域,并構建初始采樣分布,將初始失效域作為當前失效域進行迭代運算;迭代運算時根據相應的規則選擇當前失效域的采樣中心進行重采樣,并進行分類器篩選、SPICE仿真得到新的失效域;若當前失效率估計值的品質因數達到收斂標準,則停止迭代輸出當前失效率的無偏估計量,否則將新的失效域作為當前失效域繼續迭代運算。本發明充分利用預采樣獲得的信息構建樸素貝葉斯分類器對采樣點進行分類篩選,再根據篩選結果決定是否進行后續仿真,使得SPICE仿真次數大幅度減少。
聲明:
“基于貝葉斯篩選器與重采樣的電路的良率預測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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