本發明公開了一種集成電路自動控制測試方法,為一種機械結構和算法的結合,首先需要對handler內部進行結構的改造,增加失效復測區(E)和一移動機械臂(F),將需要復測的BIN放置由原來位置移動到失效復測區域,在完成第一次測試后,將失效復測區域的芯片通過機械臂又放置在待測區域,從而實現自動復測的目的,減少人工重新放置和測試機停機的時間。
聲明:
“集成電路自動控制測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)