本實用新型公開了一種散芯片自動排列測試篩選設備。本實用新型中排列裝置包括振動盤,所述振動盤內設置有芯片放置區和振動軌道,所述振動軌道一端與芯片放置區連通,另一端與輸送裝置連通,所述振動軌道上設置有與振動軌道成一整體的分選段軌道,所述分選段軌道的厚度小于振動軌道的厚度;所述測試裝置包括設置在輸送軌道上的測試區,測試區處設置有與處理器連接的感應器,測試區上方設置有由驅動裝置帶動運動的測試探針,測試探針連接到測試儀,測試儀和驅動裝置分別與處理器連接。本實用新型使GPP芯片根據要求自動按P面或N面排列,避免人工操作原因導致的芯片破損失效,排列后進行自動測試,保證芯片質量,避免芯片損壞和沾污。
聲明:
“散芯片自動排列測試篩選設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)